Difracção de Raios-X (XRD)  - Bruker D8 Discover

 

   

Sistema de difracção em altos ângulos e reflectometria de alta resolução

 Tipo de análise:

 Características técnicas:

 

 

Equipamento financiado através do Programa Nacional de Re-equipamento Científico da Fundação para a Ciência e a Tecnologia e co-financiado pelo POCI 2010 (fonte FEDER)
Projecto REEQ/516/CTM/2005
 

 

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