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Equipamento do SEMAT/UM

NanoSEM -  FEI Nova 200 (FEG/SEM); EDAX - Pegasus X4M (EDS/EBSD)

Difracção de Raios-X (XRD)  - Bruker D8 Discover
Microscópio de Força Atómica

8

Perfilómetro Ótico 3D
Nano/micro indentador – Micro Materials
Scratch tester – CSM Instruments
Laboratório de preparação de amostras